涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。所以當(dāng)儀器在離電磁場(chǎng)非常近的地方工作，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾，還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

       引起測(cè)量誤差較大的原因主要有：

       1、基體金屬磁化

       （基體金屬磁性質(zhì)會(huì)影響測(cè)量值精度，熱處理和冷加工因素的影響都會(huì)產(chǎn)生影響，所以最好使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)涂層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)）；

       2、基體金屬厚度過小

       （厚度過小，測(cè)量結(jié)果的偏差值會(huì)偏大，不應(yīng)小于涂層測(cè)厚儀基體金屬的臨界厚度）；

       3、邊緣效應(yīng)

       （測(cè)量試樣邊緣時(shí)，由于試樣邊緣形狀的不規(guī)則與加工時(shí)的粗糙容易對(duì)測(cè)厚儀的測(cè)量造成影響）；

       4、工件曲率過小

       （曲率變化對(duì)涂層測(cè)厚儀的影響非常大，如果您在平面的基材上校準(zhǔn)零點(diǎn)后直接測(cè)量曲面，那么測(cè)值肯定有偏差，正確操作是必須在同一曲率半徑的未經(jīng)噴涂工件基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，然后在測(cè)量涂層厚度）；

       5、表面粗糙度過大

       （軟覆蓋層試件在測(cè)量中可能會(huì)變形，因此也會(huì)影響精度。基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大，對(duì)測(cè)量精度的影響也就越大）

       6、磁場(chǎng)干擾探頭