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    涂層測厚儀要注意哪些影響?

    來源:http://331723.com時間:2021-06-08點擊:0次

           涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

    涂層測厚儀

           涂層膜厚儀(測厚儀)基體金屬的磁性:

           1.磁厚度測量受基體金屬磁變化的影響(在實際應用中,低碳鋼的磁變化可以認為很小)。為了避免熱處理和冷加工因素的影響,儀器應使用與測試件的基體金屬具有相同性能的標準件進行校準。待涂覆的試件也可用于校準。

           2.基體金屬的電學性質

           基體金屬的電導率影響測量,而基體金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。用與測試件的基體金屬具有相同特性的標準件校準儀器。

           3.基體金屬厚度

           每種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。超過這個厚度,測量不受基體金屬厚度的影響。

           4.邊緣效應

           這種儀器對樣品表面形狀的突然變化很敏感。因此,在樣本的邊緣或內角附近進行測量是不可靠的。 

           5.曲率

           試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而明顯增大。因此,彎曲試樣表面的測量是不可靠的。

           6.試樣變形

           7.表面粗糙度

           基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加,影響增加。粗糙的表面會導致系統(tǒng)誤差和意外誤差。在每次測量期間,應增加不同位置的測量次數(shù),以克服此類意外誤差。

           8.磁場

           各種周圍電氣設備產(chǎn)生的強磁場會嚴重干擾磁法測厚。

           9.附著物質

           10.探頭測時壓力

           11.涂層膜厚儀(測厚儀)探頭方向

           探頭的位置會影響測量。測量時,探頭應保持垂直于樣品表面。